Фото
Векторы
Видеосюжеты
АУДИО
Центр помощи

Фото со стока - Semiconductor silicon wafer undergoing probe testing. Selective focus.

Semiconductor silicon wafer undergoing probe testing. Selective focus.
ID изображения : 91517081
Тип носителя : Фото со стока
Авторское право : genkur
4320 x 2880 px | 14.4 " x 9.6 " | 300dpi | JPG
Ключевые слова стокового изображения